透射电子显微镜2
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5079/次机时次数
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20464/小时总时长
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0/次送样次数
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1343/人收藏者
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收费标准
机时350元/小时 -
设备型号
JEM-2100F -
当前状态
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管理员
王慧 -
放置地点
沙河校区实验4号楼一层电镜室
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
透射电子显微镜2
资产编号
20067820
型号
JEM-2100F
规格
产地
厂家
日本电子
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
材料科学与工程学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
王慧
联系电话
联系邮箱
放置地点
沙河校区实验4号楼一层电镜室
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
加速电压：200kV
分辨率：点分辨率0.23nm，线分辨率0.10nm
STEM分辨率：0.20nm
放大倍数：50-1500000X
试样运动范围：X=2mm，Y=2mm，Z=±0.2mm， T=±35°
分辨率：点分辨率0.23nm，线分辨率0.10nm
STEM分辨率：0.20nm
放大倍数：50-1500000X
试样运动范围：X=2mm，Y=2mm，Z=±0.2mm， T=±35°
主要功能及特色
配备场发射电子枪，以及能谱仪、扫描透射明场与暗场探头等附件，可以进行材料的组织形貌、电子衍射、高分辨图像、微区成分分布研究。
样本检测注意事项
1）禁止测试含水、有机易挥发、有腐蚀性的样品；
2）磁性样品须经负责人同意方可上机；
2）磁性样品须经负责人同意方可上机；
设备使用相关说明
校内350元/小时
预约资源
检测项目
附件下载
公告
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