透射电子显微镜
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收费标准
机时300元/小时 -
设备型号
JEM-2100 -
当前状态
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管理员
俞有幸 -
放置地点
沙河校区实验4号楼一层电镜室
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
透射电子显微镜
资产编号
12001674
型号
JEM-2100
规格
产地
厂家
日本电子
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
材料科学与工程学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
俞有幸
联系电话
联系邮箱
放置地点
沙河校区实验4号楼一层电镜室
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
最大放大：120万倍 (1,200,000×)
点分辨率：0.25 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：200 kV
极限(信息)分辨率：0.14 nm
最小束斑尺寸：1.5 nm
样品台：普通单、双倾台、拉伸单倾台、加热双倾台
最大倾转角：±40°
X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92
X射线能谱仪能量分辨率: 136 eV
点分辨率：0.25 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：200 kV
极限(信息)分辨率：0.14 nm
最小束斑尺寸：1.5 nm
样品台：普通单、双倾台、拉伸单倾台、加热双倾台
最大倾转角：±40°
X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92
X射线能谱仪能量分辨率: 136 eV
主要功能及特色
1. 可倾转角度范围大，特别适合利用衍射斑点与衍射衬度研究材料的微观结构（晶体结构、晶粒尺寸、取向关系、析出相、界面等）与缺陷状态（位错、层错等）。
2. 利用会聚束衍射（CBD）可对材料的实际厚度、晶胞参数、点群、空间群进行分析，对于了解未知材料的物理性质具有重要意义；利用高阶劳厄线（HOLZ Lines）可对材料晶胞参数的细微变化进行研究，可用于微观应力的分析；利用纳米束衍射（NBD）可分析纳米晶体的微观结构。
3. 电子束斑尺寸可在1.5 nm-35 nm范围调节，配合面积为50 mm2的能谱探头，能对微区的成分进行有效分析。
4. 利用原位加热台（最高加热温度为850 ºC）与原位拉伸台（拉伸速率在2.0 um/s范围内可调，位移分辨率为1.0 um），可实时研究材料在加热和拉伸过程中微观结构的变化规律。
5. CCD具有衍射斑点拍摄功能，避免了传统胶片需要前期处理的问题，利用DM软件可对衍射斑点进行即时分析；CCD具有摄像功能，可记录动态变化过程。
2. 利用会聚束衍射（CBD）可对材料的实际厚度、晶胞参数、点群、空间群进行分析，对于了解未知材料的物理性质具有重要意义；利用高阶劳厄线（HOLZ Lines）可对材料晶胞参数的细微变化进行研究，可用于微观应力的分析；利用纳米束衍射（NBD）可分析纳米晶体的微观结构。
3. 电子束斑尺寸可在1.5 nm-35 nm范围调节，配合面积为50 mm2的能谱探头，能对微区的成分进行有效分析。
4. 利用原位加热台（最高加热温度为850 ºC）与原位拉伸台（拉伸速率在2.0 um/s范围内可调，位移分辨率为1.0 um），可实时研究材料在加热和拉伸过程中微观结构的变化规律。
5. CCD具有衍射斑点拍摄功能，避免了传统胶片需要前期处理的问题，利用DM软件可对衍射斑点进行即时分析；CCD具有摄像功能，可记录动态变化过程。
预约资源
检测项目
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